我院王雪华教授研究团队在超快显微泵浦探测研究中取得进展

        超快光学泵浦探测技术在界面电子输运、腔中量子电动力学等领域的研究中都能发挥重要作用。传统超快泵浦探测主要集中于宏观样品（比如大面积薄膜等）的表征测量，其较低的空间分辨精度影响该方法应用于纳米体系中物理问题的研究。

        近日，我院王雪华教授、周张凯副教授和虞应研究员等人将超快泵浦探测与微区暗场测量相结合，自主搭建了显微超快光学泵浦探测系统。该系统集成了显微反射谱、透射谱、PL谱及瞬态吸收谱的测量功能，能够实现小于100nm尺度的纳米结构定位以及原位光谱收集，保证了纳米结构光学测量条件一致性和稳定性，为后续微纳光学和量子光学的研究奠定了重要基础（图1a）。比如，建立在该系统的高时间和空间分辨率基础上，他们不仅可以实现对二维材料表面缺陷的扫描成像，还可在微区上对二维材料表面缺陷的密度和激子寿命进行定量表征（图1b）。该研究工作表明，显微光学泵浦探测技术不仅能够避免电子显微技术一些缺点（比如成本高昂、扫描范围小且速度慢、对样品制备要求高且具有破坏性），同时还显示出其他显微光学探测技术不具备的一些优势，比如缺陷密度的定量化表征与激子动力学过程的可视化表征。

        上述工作发表于物理学一区杂志《Photonics Research》（Photon. Res. 7, 711,2019）。论文由中山大学物理学院王雪华教授课题组和北京科技大学张跃教授课题组合作完成，第一作者是虞应研究员、张先坤博士和周张凯副教授，通讯作者是王雪华和张跃教授。该工作研究得到了科技部重点研发计划、国家自然科学基金、“广东省特支计划”科技创新青年拔尖人才，广东省自然科学杰出青年项目和一般项目，广州市科技创新委“珠江科技新星”项目，以及光电材料与技术国家重点实验室等项目的大力支持。

图1 (a)显微泵浦探测技术光路示意图；(b) 不同缺陷密度下的单层MoS₂材料的PL、瞬态差分谱和寿命谱的扫描图

        文章链接为：https://www.osapublishing.org/prj/abstract.cfm?uri=prj-7-7-711