学术报告（2019年3月26日 周二 8: 30 – 11:30）

主持人：王为教授

【摘要】

核电子学经过NIM标准到VME标准的发展，现在面临了新的挑战。为了适应未来粒子物理实验的发展趋势，前端电子学的规模会越来越大，集成度也会越来越高。传统的模拟信号分离提取电路终将被信息集成的专用集成电路取代。其中波形采样技术是目前最流行的方式。通过采集探测器信号输出波形，可以完整获得其携带得物理信息，包括能量及时间。而且随着高集成度的采样芯片技术的发展，前端电子学有望直接贴近探测器，具有更高的噪声容限，不容易造成信息的损失。总之在未来的粒子物理实验中，这种技术的应用会越来越广泛。

原子核在衰变或反应后往往处于激发态，常以级联γ辐射方式退激到稳定态，这种级联γ辐射构成γ射线能谱，简称γ谱。γ射线能谱学主要是通过实验测量γ射线的能量、相对强度、能级寿命、角分布、级联关系、内转换系数以及γ跃迁多极性，以确定核素信息、强度、核能级的位置、自旋和宇称等等。高纯锗一直是γ谱测量最佳优选方案，它可以在室温下保存，但工作时应处于液态氮温度。其探测伽马射线探测效率不如NaI(Tl)，但有较高的能量分辨率，在分辨复杂的伽马能谱的场合占有重要作用，本次特针对高纯锗谱仪的种种应用和相应选型做专门介绍。

【报告人简介】

Giuliano Mini/朱利安.米尼现任意大利CAEN公司高级市场经理，具有多年核物理技术和市场工作背景。长期参与欧洲核子中心的测量项目及产品开发，对国际上高能物理实验的现状及未来发展趋势有深入的了解和独到看法

岑韬，现任中检维康电子技术有限公司副总经理。早年长期担任ORTEC 驻中国代表处售后服务经理，对高纯锗技术及发展现状有深入的了解和独到看法。